1. پراش اشعه X و میکروسکوپی با نور و الکترون «مرجع دانشگاهی (دکتری)»
پدیدآورنده : / مولف دپارتمان مهندسی مواد مدرسان برتر.
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع : اشعه ايكس ,میکروسکوپهای الکترونی, -- پراش
رده :
QC
۴۸۲
/
پ
۴
پ
۴ ۱۳۹۲
2. روشهای پیشرفته شناخت مواد
پدیدآورنده : / گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا.,سجادی
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیفسنجی,اشعه ايكس ,اشعه ایکس ,میکروسکوپهای الکترونی, -- پراش سنج ,-- کاربردهای صنعتی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
3. روشهای پیشرفته شناخت مواد: : مقدمهای بر روشهای میکروسکوپی، طیفسنجی و آنالیز حرارتی
پدیدآورنده : سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیفسنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
4. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمهای بر روشهای میکروسکوپی، طیفسنجی و آنالیز حرارتی
پدیدآورنده : گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیفسنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
،۷۵
/
۲،
/
س
۳
ر
۹،۱۳۹۲
5. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمهای بر روشهای میکروسکوپی، طیفسنجی و آنالیز حرارتی
پدیدآورنده : / گردآوری عبدالکریم سجادی و فرهاد صبا
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیفسنجی,اشعهایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۱
6. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمهای بر روشهای میکروسکوپی، طیفسنجی و آنالیز حرارتی
پدیدآورنده : سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیفسنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
7. روشهای پیشرفته شناخت مواد : مقدمهای بر روشهای میکروسکوپی، طیفسنجی و آنالیز حرارتی
پدیدآورنده : سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
کتابخانه: المکتبۀ المرکزیۀ ومرکز التوثیق (سمنان)
موضوع : شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیفسنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲